Dieser Filter ermöglicht eine noch weichere Hintergrundunschärfe bei offener Blende. Mit diesem Objektiv gelingen Porträts mit einer beinahe dreidimensionalen Wirkung, da sich das Hauptmotiv noch stärker vom Hintergrund abhebt. Porträts werden mit einer wunderschönen Unschärfe im Hintergrund („Bokeh“) besonders eindrucksvoll. Das Porträtobjektiv „FUJINON XF56mm F1.2 R“ lieferte in dieser Hinsicht bereits hervorragende Ergebnisse. Mit diesem Porträtobjektiv für die spiegellosen Systemkameras der X-Serie von FUJIFILM gelingen Porträts mit einer beinahe dreidimensionalen Wirkung, da sich das Hauptmotiv eindrucksvoll vom Hintergrund abhebt. Die Festbrennweite der XF-Objektivserie verfügt über eine hohe Lichtstärke von F1,2 sowie eine Brennweite von 56 mm (85 mm äquivalent zu KB). Wie auch alle anderen Objektive der XF-Serie wurde das „XF 56mm F1.2 R APD“ mit einer beeindruckenden Liebe zum Detail entwickelt. Es liegt sehr komfortabel in der Hand und die verwendeten Materialien, wie z.B. der Blendenring aus Metall, unterstreichen die Premium-Qualität des Objektivs. Objektive mit Apodisationsfilter verfügten bisher nur über einen manuellen Fokus. Beim „FUJINON XF 56mm F1.2 R APD“ ist dank des X-Bajonetts der Einsatz eines Kontrast-Autofokus möglich.
Zum ersten Mal bietet das „XF56mm F1.2 R APD“ nun auch ein Objektiv mit Apodisationsfilter, das einen schnellen und präzisen Autofokus anbietet. Das „XF56mm F1.2 R APD“ besteht aus elf Elementen in acht Gruppen, einschliesslich zwei ED-Linsen und einer asphärischen Linse. Alle optischen Elemente sind vollständig aus Glas gefertigt (inkl. der asphärischen Linse) und mit FUJINONs spezieller „HT-EBC-Beschichtung“ zur Minimierung von Oberflächenreflexionen vergütet. Es verfügt zudem über sieben Blendenlamellen, die eine nahezu kreisrunde Blendenöffnung ergeben.
